1.2.4 分析测试数据

分析测试数据是指通过对测试数据进行统计、绘图、创建表格、方程拟合和特征计算等方法挖掘数据中隐藏的信息，揭示测试数据的内在规律，既可以及时发现测试过程中的异常，为改善测试方案提供依据，又可以发现电路本身潜在的问题，为改善工艺或设计提供依据。

测试数据分析的基本类型包括：探索性数据分析、模型选定分析、推断分析[14]。

常用的测试数据分析方法有：均值分析、方差分析、直方图分析、过程能力指数（Process Capability Index，CPK）分析、BinMap分析、饼图分析、正态分布分析等可视化分析[15]。