1.1.2 集成电路测试的基本原理

图 1-2 所示的是集成电路测试的基本原理，通过对被测集成电路输入激励信号，检测输出响应，并根据预期输出完成各项功能的评估。

如果对已知功能的被测器件（Device Under Test，DUT）进行测试，理论输出响应 Y₀是根据测试中对装置输入的原始激励信号 X 和已知的被测设备功能 F（x）来确定的，测试设备的实际输出响应为Y。若Y与Y₀相同，则器件功能正常；若Y与Y₀不同，则器件有故障。测试的基本任务是：生成测试输入激励，将测试输入激励施加给被测器件，检测并分析输出响应的正确性[3]。