4.2 案例15——JTAG_RST配置不当导致芯片进入测试模式

• 书名：一板成功：高速电路研发与设计典型故障案例解析
• 作者名：张晶威编著
• 本章字数：237字
• 更新时间：2023-08-10 16:36:59