书名:
一板成功:高速电路研发与设计典型故障案例解析
作者名:
张晶威编著
本章字数:
76字
更新时间:
2023-08-10 16:36:35
第1章 硬件故障排查的方法论
故障排查是产品研发设计流程中最艰苦的阶段,同时也是一个原型机能够蜕变为产品的必要历程,本章将阐述硬件故障排查的基本流程和原则。
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